УЛУЧШЕНИЕ ОБРАТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК КРЕМНИЕВЫХ ДИОДОВ ПРИ ИСПОЛЬЗОВАНИИ ГЕТТЕРИРОВАНИЯ ДЕФЕКТОВ
Анотація
Данная работа посвящена исследованию причин низкого процента выхода годных диодов и разработке эффективного технологичного метода геттерирования структурных дефектов в кремнии с целью уменьшения плотности дефектов и повышения выхода годных диодов.
Ключові слова
геттерирование; обратный ток; кремний; диод; диффузия; окислительные дефекты упаковки
Повний текст:
PDFПосилання
- Поки немає зовнішніх посилань.